辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)

项目简介

　　利用辉光放电源作为离子源与质谱仪器联接进行质谱测定的一种分析 方法。 在材料科学领域，GDMS成为反应性和非反应性等离子体沉积过程的控制和表征的工具。由于其可以直接固体进样，GDMS已成为无机固体材料，尤其是高纯材料杂质成分分析的强有力方法，可得到元素半定量数据。

　　1. 测量时显示时间-强度曲线，是客观的，客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化;

　　2. 测量后根据校准曲线拟合转换成深度-百分含量曲线;

　　3. 本数据用ORIGIN直接导入即可，出现很多纵坐标，Y轴即为对应元素，选择需要的元素作图即可(数据中可能出现“Fi”的数据列为仪器参数请忽略)

常见项目

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结果展示

常见问题

　　1. 测试需要样品导电吗?适合测什么物质呢?

　　要求样品必须导电，一般适用于纯物质中杂质的测试。

　　2. GDMS可以测的全部元素包含哪些呢?

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