X射线荧光光谱(XRF)

项目简介

　　X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪)，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。一般是半定量测试，测到的都是元素含量，氧化物含量也是根据单质含量进行换算的，可作为一种快速的无损分析。

　　可测元素范围：常规测试范围9F-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好，但是O的结果不准。

　　制样方法：压片、融片

　　结果模式：单质、氧化物

常见项目

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结果展示

常见问题

　　1. 仪器的检测限多少?元素含量低于多少结果会不可靠?

　　理论上仪器的检测限为ppm—100%，但实际上 当元素含量低于1%时测量会存在误差，结果只能做为参考;

　　2. XRF对样品有什么要求，片状样品可以测试吗?

　　XRF样品最好磨成粉末，且样品量确保在3g以上，因为需要和淀粉压片后测试，如果样品量太少，会导致结果不准确;

　　片状样品要求表面平整光洁无污染，直径34-38 mm，厚度为3-5 mm的圆柱;只能定性+半定量，如需准确定量最好是粉末，且颗粒大的必须磨成粉。

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