原子力显微镜(AFM)

项目简介

　　AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。

常见项目

　　原子力显微镜-普通模式

　　原子力显微镜-特殊模式：表面形貌KPFM、压电PFM、纳米力学QNM(力曲线、杨氏模量)、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM 以及表面形貌、厚度、粗糙度测试;

结果展示

　　表面形貌

常见问题

　　1. AFM粉末制样，基片选择有哪些?

　　AFM粉末制样时基片的选择有云母、高序热解石墨HOPG、单晶硅片、玻璃、石英等;一般要结合样品的亲疏水、表面化学特性等选择合适的基片，对于详细研究粉体尺寸、形状等特性，应尽量选取表面原子级平整的韵母、HOPG等作为基片;

　　2. AFM测试数据有哪些?

　　可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

　　3. AFM拍摄范围一般是多大?

　　不像SEM、TEM或者金相那样，测试时规定倍数要求，AFM一般要告知扫描范围，常规是1*1μm到10*10μm;范围过小，分辨率可能达不到，范围过大，可能可能测不出来较好的图像，而且会增加扫描时间;

　　4. 特殊模式和数据有哪些?

　　表面形貌测试：可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

　　导电性能测试(C-AFM)：同时得到形貌和电流分布图;也可以进行选区I-V曲线测试;

　　表面电势测试(AFM-KPFM)： 表面电荷的半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差;

　　磁学性能测试(AFM-MFM)：微区磁畴的分布表征;

　　纳米力学测试(AFM-QNM)：力学图谱测量，可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布;

　　压电力测量(AFM-PFM)：薄膜，陶瓷，晶体，纤维材料的表面铁电畴表征，极化反转和蝴蝶曲线测试，畴操纵;

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